产品名称：XP-系列分析天平 品牌：METTLER TOLEDO 产品特点： ♦高对比度的彩色触摸屏，红外感应器，网格秤盘，水平控制系统，8个用户界面全金属机架，外形美观，使用方便。 ♦采用高精度高分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量要求 ♦天平校准功能，自动提示用户使用外置砝码校准/校准天平，确保称量的结果始终准确 ♦*可拆卸，可清洗的玻璃防风罩设计，持久保持洁净 ♦优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求 ♦丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量。 技术参数： | 型号 | zui大称量值（g） | 可读性（mg） | 重复性sd（mg） | 线性误差（mg） | 典型稳定时间（s） | 秤盘尺寸（W*D） mm | | XP105DR | 31 / 120 | 0.01 /0.1 | 0.015 / 0.06 | 0.15 | 1.5 | 78×73 | | XP205 | 220 | 0.01 | 0.03 | 0.1 | 2.5 | 78×73 | | XP205DR | 81 /220 | 0.01 /0.1 | 0.015 / 0.06 | 0.15 | 1.5 | 78×73 | | XP204 | 220 | 0.1 | 0.07 | 0.2 | 1.5 | 78×73 | | XP504 | 520 | 0.1 | 0.12 | 0.4 | 1.5 | 78×73 | | XP504DR | 101 /520 | 0.1 / 1 | 0.1 / 0.6 | 0.5 | 1.5 | 78×73 | DR =变量程 sd=标准偏差 |
